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紫外可見分光光度計

簡要描述:

UV762紫外可見分光光度計的光學系統設計、微機控制和處理數據、大屏幕LCD中文窗顯示操作菜單、光譜圖和分析測試數據。成都一種全新的雙光束自動掃描。成都具有全新的光學系統設計,使儀器的主機具有優良的光學性能和測光性能,雜散光和噪聲低,測光精確度和穩定可靠性高。

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UV762紫外可見分光光度計廣泛用于藥品檢驗、醫藥衛生、生物化學、環境監測、商品檢驗、石油化工、黑色和有色冶金等領域,是質量控制、技術鑒定和科學研究所必須的基本設備。
UV762紫外可見分光光度計產品簡介:
該產品是一種全新的雙光束自動掃描。采用了全新的光學系統設計、微機控制和處理數據、大屏幕LCD中文窗顯示操作菜單、光譜圖和分析測試數據。具有光度測量、自動掃描測量光譜、定量分析、動力學分光光度分析等多項功能。分析靈敏度和精確度高;光譜數據處理功能強;采用中文人機對話、操作方便;儀器外形美觀大方。
UV762主要特點:
◆全新的光學系統設計,使儀器的主機具有優良的光學性能和測光性能,雜散光和噪聲低,測光精確度和穩定可靠性高。
◆獨特的氘燈和鎢燈安裝 、光源自動切換及自動尋找*位置的設計和工作方式,使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全。
◆優良的軟件設計和編制,使儀器有較強的光譜數據處理功能:自動掃描測量光譜、多波長(1-3λ)測定、動力學測定、1-3次曲線擬合、1-4階導數光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數據。
◆采用大屏幕中文窗口顯示、具有良好的人機對話界面。
UV762性能指標:
◆波長范圍:200nm-1100nm
◆波長zui大允許誤差:≤±0.5nm
◆波長重復性:≤0.2nm
◆透射比zui大允許誤差:±0.5%(τ)
◆透射比重復性:0.2%(τ)
◆光譜帶寬:2nm
◆基線平直度:±0.004A(200nm-1000nm)
◆漂移:0.004A/h(500nm處,預熱2小時)
◆雜光:0.15%T(在220nm處,以Nal測定) (在360nm處,以NaNO2測定)

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